Petunjuk Refinement, Analisis Pola Difraksi Sinar-X Serbuk Menggunakan Metode Le Bail Pada Program Rietica

Kata Pengantar

Puji Syukur Kehadirat Allah SWT, karena atas limpahan Rahmat dan Karunia-Nya, sehingga buku yang sederhana ini akhirnya dapat penulis selesaikan. Buku ini Penulis susun ditujukan bagi yang merasa perlu untuk menggunakan buku ini khususnya bagi para pemula yang akan menggunakan program Rietica. Buku ini penulis buat dengan harapan mudah dipahami, sehingga penulisan buku ini disertai dengan penjelasan yang sederhana dan dengan banyak gambar. Dalam penyusunan buku ini, penulis tak lupa mengucapkan banyak terima kasih kepada semua pihak yang telah mendukung penulis untuk membuat buku ini, semoga amal ibadah mereka diterima disisi Allah SWT. Penulis juga menyadari bahwa Penulisan Buku ini masih banyak kekurangannya, oleh karena itu kritik dan saran dari para pembaca dan pengguna buku ini sangat kami harapkan. Terlepas dari kekurangan tersebut, Penulis berharap semoga buku ini dapat memberi manfaat bagi siapa saja yang menggunakan buku ini.

Bandung, 19 Januari 2011

Rolan Rusli

Daftar Isi

 

Analisis Pola Difraksi Sinar-X Serbuk Menggunakan Metode Le Bail Pada Program Rietica

  1. Pembuatan data file yang akan digunakan pada program Rietica
  2. Pembuatan input file dan Refinement pada program Rietica
  3. Interpretasi Data Output Program Rietica

Lampiran 1.  Contoh hasil refinement.

Analisis Pola Difraksi Sinar-X Serbuk Menggunakan Metode Le Bail Pada Program Rietica

Pola difraksi sinar-X dapat dianalisis dengan cara dengan cara kualitatif dan kuantitatif. Analisis kualitatif difraksi sinar-X serbuk dapat dilakukan dengan menggunakan database yang ada pada PCPDFWIN (Powder diffraction file). Sedangkan untuk pendahuluan analisis dilakukan dengan menggunakan program komputer yaitu dengan menggunakan metode Le Bail.

Pada metode Le Bail, intensitas dari berbagai macam pemantulan sinar dihitung dengan menggunakan suatu model acuan struktur yang sesuai. Dalam metode Le Bail ini dilakukan pergeseran nilai-nilai parameter kisi sehingga dihasilkan kemiripan struktur yang maksimal antara hasil difraksi sinar-X yang dihasilkan dengan struktur model acuan yang digunakan. Nilai-nilai parameter kisi tersebut, hasil dari pergeseran yang dilakukan akan menjadi parameter kisi dari difraksi sinar-X serbuk hasil eksperimen.

Berdasarkan hal tersebut, maka dibuatlah suatu petunjuk untuk analisis pola difraksi sinar-X serbuk dengan menggunakan metode Le Bail pada program Rietica. Petunjuk ini dibuat bagi siapa saja yang akan menggunakan program Rietica dalam melakukan refinement pola difraksi sinar-X dengan menggunakan metode Le Bail, terutama bagi para pemula untuk lebih memahami bagaimana dalam menganalisis pola difraksi sinar-X.

Petunjuk refinement metode Le Bail ini, dibagi ke dalam tiga bagian utama petunjuk yaitu :

  1. Bagian pertama yang berisi tentang petunjuk pembuatan data file yang akan digunakan pada program Rietica
  2. Bagian kedua berisi tentang petunjuk pembuatan input file dan Refinement pada program Rietica
  3. Bagian terakhir adalah petunjuk interpretasi data output program Rietica

Silahkan klik kanan kanan file berikut ini, dan simpan ke folder yang anda inginkan.

Petunjuk Refinement, Analisis Pola Difraksi Sinar-X (X-ray Difraction, XRD) Serbuk dengan Metode Le Bail menggunakan Program Rietica

Terima kasih.

By

Rolan Rusli

email : rolan@rolanrusli.com